北京
PART1
研討會(huì)基本信息
NI測試測量技術(shù)研討會(huì)再次由深圳起航，以AI+測試為主題，走遍十個(gè)城市，與全國各地朋友相聚，共同探討AI+測試的落地，共贏智能測試的未來。
活動(dòng)時(shí)間
2026年1月21日（星期三）
13:30-17:10（12點(diǎn)開始簽到）
活動(dòng)地點(diǎn)
廈門喜來登酒店
（地址：福建省廈門市湖里區(qū)嘉禾路386-1號(hào)）
點(diǎn)擊查看地圖▼
碼上報(bào)名
NI測試測量技術(shù)研討會(huì)廈門站
PART2
為什么參會(huì)？
分享最新AI+測試進(jìn)展，深入探討如何實(shí)現(xiàn)技術(shù)落地
技術(shù)專家面對(duì)面分享：最新測試技術(shù)成果，提高測試精度技巧，并為您解讀各種疑難問題
多款全新軟硬件產(chǎn)品發(fā)布，AI助手Nigel?，全新PXI控制器/機(jī)箱/模塊，全新DAQ產(chǎn)品，全新USRP產(chǎn)品
PART3
誰適合參加？
測試測量工程師、研發(fā)工程師
工程團(tuán)隊(duì)負(fù)責(zé)人，技術(shù)總監(jiān)
院校及研究所研究人員
LabVIEW愛好者，開發(fā)者
PART4
日程安排
PART5
實(shí)機(jī)展示
NI Nigel? AI助手體驗(yàn)
通過配置快速完成PXI自動(dòng)化測試任務(wù)（InstrumentStudio?軟件展示）
快速完成傳感器配置與數(shù)據(jù)記錄（FlexLogger?軟件展示）
射頻通信原型驗(yàn)證平臺(tái)USRP更新
全新數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品（DAQ）更新
24bit高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片（ADC）芯片測試系統(tǒng)
多通道、大電流電源管理芯片(PMIC)測試系統(tǒng)
全新雙通道矢量信號(hào)收發(fā)儀VST-5860
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