10.5nm 無圖形晶圓顆粒檢測打破國外技術壟斷，領跑國產！昂坤半導體AP8重磅亮相 SEMICON China 2026

10.5nm無圖形晶圓顆粒檢測打破國外技術壟斷，領跑國產！昂坤半導體AP8重磅亮相 SEMICON China 2026

2026年3月25日，全球半導體產業(yè)年度盛會SEMICON China 2026在上海新國際博覽中心開幕。昂坤半導體（AK OPTICS）推出AP8無圖形晶圓顆粒缺陷檢測設備，以10.5nm顆粒檢測能力成為現(xiàn)場焦點，展現(xiàn)國產檢測裝備對標國際頂尖水平的技術實力。

展會期間，昂坤半導體N2館2325展位人氣高漲，來自晶圓制造、芯片生產、科研院所等領域的專業(yè)觀眾與客戶絡繹不絕，圍繞產品技術與應用方案展開深度交流。現(xiàn)場還吸引歐洲、北美、日韓及東南亞等海外客戶駐足咨詢，雙方就設備技術參數、工藝適配、合作模式等議題進行細致洽談。

（昂坤董事長馬鐵中博士正在向現(xiàn)場觀眾介紹昂坤設備）

新品重磅突破！AP8實現(xiàn)

10.5nm無圖形晶圓顆粒檢測能力

繼昂坤半導體2025年10月份推出AP7XP（12.5nm顆粒檢測能力）并取得批量發(fā)貨后，作為本次展會核心新品，昂坤半導體AP8晶圓顆粒缺陷檢測設備實現(xiàn)10.5nm顆粒檢測能力，全面適配先進制程需求。設備搭載自研光學系統(tǒng)與AI智能分類算法，核心組件實現(xiàn)全國產化，打破國外技術壟斷，為國內客戶提供自主可控、高穩(wěn)定性的量產解決方案。展會現(xiàn)場已有多家客戶達成Demo打樣意向，助力國產高端檢測設備進入產線驗證階段。

（昂坤董事長馬鐵中博士和IC產品事業(yè)部副總經理楊釗文博士展示AP8顆粒檢設備）

核心產品再升級！三大系列設備彰顯全場景技術硬實力

本次展會上，昂坤半導體還帶來集成電路量檢測、化合物半導體量檢測、原位監(jiān)測與紅外測溫三大核心產品系列，呈現(xiàn)完整半導體量測解決方案。

集成電路量檢測系列

聚焦12寸晶圓全場景檢測需求，覆蓋幾何形貌與顆粒缺陷全流程解決方案。形貌測量可實現(xiàn)亞納米級高精度檢測，適配大翹曲晶圓、鍵合片等特殊場景，支持與鍵合設備協(xié)同使用；顆粒缺陷檢測覆蓋多檔靈敏度，兼顧先進制程與成熟工藝，形成完整產品線。

（集成電路量檢測設備系列）

化合物半導體及LED照明量檢測系列

在寬禁帶半導體領域，昂坤Eagle系列設備市場應用廣泛，已實現(xiàn)全流程檢測覆蓋，獲得產業(yè)鏈上下游高度認可，打破該領域國外設備長期主導格局，為國內化合物半導體產業(yè)自主可控提供支撐。

（化合物半導體及LED照明量檢測系列）

原位監(jiān)測與紅外測溫系列

該系列產品代表國內該領域頂尖技術水平，攻克高端型號技術難點并實現(xiàn)批量供應。憑借精準測量、強抗干擾能力與設備集成優(yōu)勢，產品國內市場占比領先，解決高端外延設備測溫模塊進口依賴問題，主導定義國產高端工藝監(jiān)控標準，為半導體產業(yè)鏈自主發(fā)展提供核心保障。

（原位監(jiān)測與紅外測溫系列）

昂坤半導體憑借設備高穩(wěn)定性、優(yōu)異重復性與便捷操作體驗，收獲行業(yè)良好口碑，展會期間，眾多客戶經產業(yè)鏈上下游企業(yè)推薦專程到訪洽談合作。未來，昂坤半導體將堅持以客戶需求為核心，深耕技術研發(fā)，嚴控產品質量，優(yōu)化服務體系，以長期主義助力中國半導體產業(yè)國產化替代與高質量發(fā)展。

【關于昂坤半導體】

昂坤半導體股份有限公司是國內領先的半導體量檢測設備供應商，專注半導體晶圓光學測量與缺陷檢測技術研發(fā)、生產與銷售，產品覆蓋集成電路、化合物半導體、LED 照明等核心領域。公司具備自主核心光學平臺與智能視覺算法研發(fā)能力，為國家專精特新重點 “小巨人” 企業(yè)、國家高新技術企業(yè)，通過 ISO9001 質量管理體系認證，致力于打造國際高端水準晶圓量檢測設備，推動中國半導體產業(yè)自主發(fā)展。

商務洽談或技術咨詢：sales@akoptics.com

—— 芯榜 ——

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