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總結
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高速集成電路與系統的設計常常受到熱方面因素的制約。直至1981年,權威觀點仍預測:對于液冷、致密封裝的集成電路(IC),可實現的最大功率熱流密度約為20 W/cm2。
對流傳熱理論表明,在正常工作溫度下,只要采用微尺度(例如,寬約50 μm)的擴展表面結構,就可以以緊湊方式從IC上移除遠高于1000 W/cm2的熱流密度。構建高導熱、低應力的IC—散熱器熱界面存在困難,這提示應采用一體化散熱器。因此,本研究采用IC微加工技術,在標準厚度硅襯底內部直接設計、制備并測試了新型超緊湊水冷、層流、優化的板翅與針翅散熱器。對1 cm2薄膜電阻器測得的最不利情況下的熱阻低至0.083 °C/W(例如在1309 W時溫升108 °C),與預測結果符合良好。傳熱能力仍可進一步提高。
在多芯片系統中使用一體化液冷散熱器會帶來潛在的良率、可靠性、成本與封裝問題。將未改動的IC附著到微散熱器上似乎是更具吸引力的方法。為避免傳統附著方式的問題,本文開發了一種新型芯片附著技術:在散熱器襯底中,液體部分填充由微米尺度寬度的回入式毛細結構組成的陣列,使表面張力將IC拋光后的背面壓持在與散熱器緊密的熱接觸狀態。該鍵合無空洞、幾乎無應力、壽命長,并允許在不損傷散熱器襯底的情況下反復拆卸與更換IC。回入式溝槽通過一種新工藝制備:在垂直硅微溝槽上進行化學鍍鎳。對1 cm2面積,在300 W條件下測得典型界面熱阻為0.022 °C/W。
總之,本文采用微加工技術制備了體積極小(0.1 cm3)的新型超高性能液冷散熱器,并制備了一種在此類散熱器與集成電路襯底之間的新型、無應力、可重復使用的微毛細熱界面。這些技術為VLSI系統設計者提供了更大的自由度:在可顯著提高功耗的同時,還能同時獲得更低工作溫度帶來的可靠性收益。
Heat-Transfer Microstructures for Integrated Circuits.pdf
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