太好玩了！Yi Cui（崔屹）和Yi Cui（崔一）發一篇Science之后，又發Nature超級綜述！

來源：測試云平臺

透射電鏡雖可達原子分辨，但電子束或環境易使敏感材料降解。冷凍電子顯微鏡（cryo-EM）憑借–178 °C低溫、低劑量成像與直接電子探測器，顯著抑制損傷并保留原始狀態，還能通過plunge/operando-freeze在反應瞬間“凍結”亞穩中間體，實現原子級成像與三維重構，徹底改變了結構解析方式。同時，結合cryo-STEM、EDS、EELS、4D-STEM及ptychography，可在納米尺度解析元素分布、化學鍵與電磁場。如今，cryo-EM的應用已從主要關注結構信息的結構生物學，擴展到同樣重視化學與物理信息的材料科學。材料比生物樣品耐劑量高1–2個量級，使cryo-ET先低分辨掃全器件，再高分辨聚焦關鍵區，從而橋接宏觀器件與原子世界，為電池等復雜體系提供三維結構與化學信息。

成果簡介

在此，斯坦福大學崔屹院士和趙華（Wah Chiu）院士，崔一（第一作者）等人聚焦于樣品制備方法與成像策略，系統梳理了cryo-EM的基礎原理與最新進展，并探討其在材料科學中的應用。文章首先討論適用于cryo-EM的樣品制備方法，重點介紹利用operando-freezing技術捕捉化學反應中間態的潛力。隨后闡述電子—物質相互作用的物理機制、相關損傷機理，以及cryo-EM對不同類型材料的保護效果。接著回顧多種cryo-EM成像策略，包括高分辨低劑量技術及cryo-STEM的新進展，如4D-STEM、疊層成像（ptychography）和EELS。最后，探討將cryo-ET技術拓展至材料三維成像的現有努力與未來機遇。

相關文章以“Cryogenic electron microscopy and tomography for beamsensitive materials”為題發表在Nature Reviews Physics上！中科大少年班學院1600本科校友崔一（USTC1600）為本文第一作者！這也是繼Science之后，師徒兩人合作的又一重要成果！

有趣的是，2024年1月11日，崔屹和崔一曾一起發表Science正刊論文，https://www.science.org/doi/10.1126/science.adk5947

研究要點

1. 有效的樣品制備對于保持材料的原始狀態、防止成像過程中發生相變或化學反應至關重要。

2. 先進的快速冷凍技術已證明cryo-EM可通過在低溫下減緩或終止能源相關過程，從而捕捉其中間態；若在冷凍過程中施加外場（電場、磁場或光場），可更精確地調控這些狀態。

3. 通過低劑量技術最大限度減少電子束劑量、利用直接電子探測器最大化信噪比，并根據材料類型與樣品特性優化成像條件，可顯著降低電子輻照損傷對 cryo-EM 成像與譜學的影響。

4. 低溫下的分析型STEM技術（如能譜EDS和電子能量損失譜EELS），結合4D-STEM 與疊層成像實現精細結構成像，極大拓展了cryo-EM在材料科學中的應用。

5. 冷凍電子斷層掃描（cryo-ET）及先進的數據與圖像處理方法的開發，進一步實現了材料的三維成像與分析，為研究復雜材料體系開辟了新途徑。

圖文導讀

1.冷凍樣品制備

冷凍樣品制備是cryo-EM成功的關鍵：目標是在<–150 °C下獲得電子透明且保持原始狀態的樣品。生物樣品通過控濕、吸液、液態乙烷plunge玻璃化，并全程液氮保護。空氣敏感的電池材料需在Ar手套箱內完成滴樣、密封、液氮破管取網，實現電解液玻璃化。快速冷凍可“凍結”亞秒級亞穩中間體，operando-freezing裝置已用于CO2RR和電池瞬態研究。厚度≤1 μm可直接plunge；更厚樣品用cryo-FIB/SEM切取2–3 μm薄片，再減薄至<100 nm，保證電子透明并保護界面。此外，并非所有束敏感材料都需冷凍，空氣穩定體系可在室溫低劑量成像。

圖1：冷凍電鏡樣品制備的方案

2.高分辨cryo-EM與劑量控制

高分辨cryo-EM必須在極低電子劑量下成像，以避免束敏感材料損傷。常規低劑量流程分搜索、對焦、曝光三步，配合SerialEM自動控制和DED電影模式采集，再通過幀對齊與平均算法提升圖像質量。鋰電池SEI的劑量閾值：干燥態<1 000 e- ?-2，含玻璃化電解液時<50 e- ?-2；碳酸酯電解液在~50 e- ?-2即產生氫氣泡，醚類需100–200 e- ?-2。劑量分次成像已揭示干燥 SEI 的馬賽克/多層結構及溶脹態非晶特征，并用于研究枝晶、正極界面等。MOF、鈣鈦礦等低原子序數材料更易受損，需 <25–10 e- ?-2的cryo-TEM/STEM才能保持框架或晶格完整。此外，結合operando-freeze 技術，可在單顆粒水平捕捉光致相分離等瞬態過程，實現原子-納米級時間分辨分析。

圖2：采用低劑量cryo-EM技術對光束敏感材料進行高分辨率成像

3.Cryo-STEM與分析方法

Cryo-STEM通過掃描亞納米電子探針并同時采集多種信號，為低溫、束敏感材料提供結構-化學-電子一體化表征。4D-STEM以像素級衍射圖構建四維數據集，可提取取向、應變、相分布，需GPU加速處理。對束敏感樣品采用~2 nm探針、~10 nm步長，低溫與DED 提升劑量效率，已用于聚合物、鋰電池及鈣鈦礦等。疊層成像利用4D-STEM的相干衍射，在低劑量下實現亞埃分辨和3D輕元素成像，但算法復雜、采集時間長，需更快探測器與穩定冷臺。Cryo-EELS 通過非彈性散射解析鍵合、價態和電子結構，低溫抑制損傷，已原位捕捉電池LiH、Cu-CO2RR 中間體，并揭示量子材料的低溫電子相。三者互補，為束敏感體系提供近原生、原子級全面信息。

圖3：cryo-EM在材料研究中的應用

4.冷凍電子斷層掃描（cryo-ET）技術

冷凍電子斷層掃描（cryo-ET）通過?60°至+60°連續傾斜樣品，采集2D投影后計算重構3D結構，角增量0.5–5°，并采用劑量對稱方案兼顧分辨率與輻照劑量。受機械與樣品厚度限制，存在“缺失楔”偽影，可用雙軸斷層縮減為缺失金字塔，但需進一步降低單張劑量。 采集后先校正束致漂移、CTF，再用加權反投影、ART或SIRT算法重建。cryo-ET起源于生物大分子，現已拓展至聚合物、電池等無機材料；因材料耐輻照（有機電解液約100 e- ?-2），可獲得高信噪比，已揭示鋰枝晶-SEI 的 LiH 短期生長與 SEI 長期擴展兩種老化模式。 此外，STEM 斷層（HAADF-STEM）結合EDS/EELS可實現元素級3D成像，用于解析硅負極表面化學演化，但需標定cryo-STEM劑量。深度學習（U-Net 去噪、GAN 補全缺失楔）與高性能計算正推動實時、高保真、自動化的 3D 重構，跨學科融合將催生自適應cryo-ET 系統。

圖4：低溫電子斷層掃描

結論展望

綜上所述，冷凍電鏡在材料科學中的廣泛應用將得益于樣品制備、成像條件、儀器與數據處理技術的持續進步。玻璃化、operando冷凍及cryo-FIB等低溫樣品制備手段的改進，將實現更高時間分辨的動態過程與反應路徑研究。將cryo-EM/cryo-ET與4D-STEM、疊層成像和 EELS 整合，可在同一試樣上同步獲取結構、成分與電子性質的多模態信息。為確保復雜數據的可靠解釋，需通過標準化流程（關鍵劑量標定、區域一致性、精確劑量控制）最大限度減少人為假象。同時應分析多個區域和樣品，降低操作者偏差并提升可重復性。借助高穩定低溫樣品臺、新一代直接電子探測器（DED）及實時校正算法，可有效抑制樣品漂移和束流不穩等儀器假象。此外，cryo-EM與機器學習、自動數據采集的融合，將加速數據解析并擴大其在材料研究社區的普及。

文獻信息

Yi Cui, Zewen Zhang, Robert Sinclair, Wah Chiu*, Yi Cui*,Cryogenic electron microscopy and tomography for beamsensitive materials,Nature Reviews Physics, https://doi.org/10.1038/s42254-025-00896-4

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