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在半導體產業向高性能、高算力全速進階的當下,AI/GPU 芯片作為算力核心載體,其可靠性直接決定終端產品的使用壽命與運行穩定性,而半導體可靠性老化測試正是芯片量產前的關鍵驗證環節,更是保障芯片全生命周期性能的核心防線。
勝科納米 AI/GPU 芯片高功率老化測試
AI/GPU 芯片因高算力架構設計,存在功率密度大、熱損耗高的特性,對老化測試的高功率承載、精準溫控能力提出嚴苛挑戰。
勝科納米深耕半導體檢測分析領域,引入了1500W水冷動態老化測試等系統,憑借核心技術突破打造專屬AI/GPU 芯片的高功率老化測試能力,全流程契合 JESD22-A108 標準要求。
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高功率動態老化系統的落地,讓勝科納米在分析測試中實現了單顆芯片功耗1500W的高功率信號穩定加載,高效模擬 AI/GPU 芯片實際工作中的復雜工況,全面捕捉高功率運行下的潛在可靠性風險。
從芯片設計驗證HTOL到量產Burn-in,勝科納米的高功率老化測試能力,為 AI/GPU 芯片從實驗室走向市場筑牢可靠性屏障,助力高端算力芯片實現更穩定、更長效的算力輸出。
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| 投稿:zhanghuan@woyaoce.cn
| 來源:勝科納米
| 責編 :不晚
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