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PART1
研討會基本信息
NI測試測量技術研討會北京站即將啟幕! 本次會議以“AI+測試”為核心,深入探討人工智能在測試測量領域的落地實踐。
現場將集中展示多款新產品,包括AI能力進一步增強的新版本 LabVIEW、新一代 PXI 機箱、控制器及儀器板卡,以及全新 USRP X420等。
會議還將覆蓋商業衛星互聯網、半導體測試、院校前沿研究、人形機器人等熱點領域,攜手探索智能測試新機遇,共贏未來。
先報名,預約席位
活動時間
2026年4月16日(星期四)
13:30-17:00(12:00開始簽到)
活動地點
北京新云南皇冠假日酒店
(地址:北京市朝陽區東北三環西壩河太陽宮橋東角云南大廈)
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NI測試測量技術研討會北京站
PART2
為什么參會?
聚焦“測試 + AI”前沿趨勢,探討 AI 如何真正賦能測試開發流程
中國特別版PXI產品發布,性能不負眾望,價格超乎想象
射頻及航空航天論壇,匯集大帶寬流盤回放、信道仿真測試、射頻參數測試等功能
前沿行業應用,包含AI通信系統,相控陣,6G研究、人形機器人、高速ADC等
展示環節,超過15個實機系統,現場體驗,與資深工程師深入交流
PART3
誰適合參加?
測試測量工程師、研發工程師
工程團隊負責人,技術總監
院校及研究所研究人員
LabVIEW愛好者,開發者
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