芯片測試測量技術研討會（4月16日 北京站）

PART1

研討會基本信息

NI測試測量技術研討會再次起航，以AI+測試為主題，走遍全國多個城市，與全國各地朋友相聚，共同探討AI+測試的落地，共贏智能測試的未來。

活動時間

2026年4月16日（星期四）

14:00-17:30（12:30開始簽到）

活動地點

北京新云南皇冠假日酒店

（地址：北京市朝陽區東北三環七圣中街12號云南大廈）

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NI測試測量技術研討會北京站

PART2

為什么參會？

• 聚焦“測試 + AI”前沿趨勢，探討 AI 如何真正賦能測試開發流程

• 深度解析 NI Nigel? AI如何提升 LabVIEW 與 TestStand 的工作效率

• 分享 PXI 平臺自動化測試方案，加速系統級測試構建

• 多個專題覆蓋光電、高速 ADDA 等關鍵測試方向

• 前沿射頻應用方案及案例

• 現場 Demo 參觀與互動交流，直觀了解方案應用場景

PART3

誰適合參加？

• 測試測量工程師、研發工程師

• 工程團隊負責人，技術總監

• 院校及研究所研究人員

• LabVIEW愛好者，開發者

PART4

日程安排

演講摘要，快速get演講精華▼

AI+測試，NI Nigel? AI提升測試工作效率

在 AI 推動測試與測量邁向智能化的趨勢下，NI 推出 Nigel? AI，并已集成于最新 LabVIEW 與 TestStand。演講講圍繞NI在AI測試上的進展，展示如何幫助工程師提升效率、降低成本、聚焦高價值創新，加速產品上市并提升測試質量。

借助PXI與NI LabVIEW+ 套件加速電子產品自動化測試

在電子產品測試日益復雜、節奏不斷加快的背景下，傳統測試方式已難以滿足效率與質量要求。本次演講將聚焦 NI PXI 平臺與軟件工具鏈，系統解析如何從交互式測量快速演進到自動化、并行測試，通過真實案例與演示，展示如何顯著縮短測試時間、提升測試效率，加速產品驗證與量產落地。

光電子應用測試方法

在算力與數據中心網絡速率邁向 400G、800G 乃至 1.6T 的背景下，光電子技術正成為突破電互連瓶頸的關鍵。本次演講聚焦高性能計算與數據中心的真實應用需求，系統介紹光模塊、硅光與共封裝光學的發展趨勢，并深入解析基于 PXI 平臺的有源光電子與光電混合測試方案。通過豐富的架構示例與測試場景，展示 NI 如何以高密度、高精度、可擴展的測試能力，助力客戶從實驗室到產線，高效應對新一代光電子器件的測試挑戰。

高速ADC(JESD204B & JESD204C) 測試方法

本次演講聚焦高速ADC測試的最新趨勢，從JESD204B的發展背景切入，系統講解其在高速、高集成度ADC測試中的價值，并進一步延展到JESD204C的測試方案與演示。內容涵蓋測試架構、關鍵硬件平臺、時鐘與同步、軟件與自動化測試實現，結合真實測試結果，展示一套高性能、易擴展的ADC測試解決方案，幫助客戶加速芯片驗證與量產落地。

前沿無線通信射頻測試方案和案例

本次演講將介紹NI從射頻研究到量產應用的最新測試方案，以應對高頻、高帶寬、高階調制等帶來的挑戰。內容涵蓋新型矢量信號收發儀PXIe-5842和PXIe-5860，新款矢量網絡分析儀PXIe-5633的卓越射頻性能，結合強大的NI射頻測試應用軟件RFmx，能夠滿足各種最新無線通信標準產品的性能驗證與測試，另外會介紹針對射頻原型研究的全新產品NI Ettus USRP X420。

PART5

實機展示

• NI Nigel? AI體驗

• 通過配置快速完成PXI自動化測試任（InstrumentStudio?軟件展示）

• 快速完成傳感器配置與數據記錄（FlexLogger?軟件展示）

• 大數據量射頻信號高速錄制回放系統

• 高速ADC測試系統

• 光電子應用測試方案

• 通信數據高速流盤系統(X410+PXIe-7903)

• 半實物模擬仿真飛控測試平臺

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